光伏产业链
绒面反射率测试仪
型号: RTIS
测量范围:0-100%%
测量精度:±1%%
光谱范围:300-1200nmnm
适用硅片类型:单晶/多晶硅片
测量时间:<30ss
用于测量硅片绒面的反射率，适用于硅片表面处理质量控制
产品信息
公司档案页基本参数
| 测量范围 | 0-100%% |
| 测量精度 | ±1%% |
| 光谱范围 | 300-1200nmnm |
| 适用硅片类型 | 单晶/多晶硅片 |
| 测量时间 | <30ss |
数据来源: Tekx 新能源光储充供应链库 · 产品信息仅供参考
光伏产业链
型号: RTIS
用于测量硅片绒面的反射率，适用于硅片表面处理质量控制
| 测量范围 | 0-100%% |
| 测量精度 | ±1%% |
| 光谱范围 | 300-1200nmnm |
| 适用硅片类型 | 单晶/多晶硅片 |
| 测量时间 | <30ss |
数据来源: Tekx 新能源光储充供应链库 · 产品信息仅供参考